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賽可（SEC）X-RAY設備X-eye 6200 Series：搭載自主研發·生產的0.8微米focal spot tube和大面積Detector，確保高(High)分辨率圖像，最小也可以檢測出20微米的細微缺陷的設備。
更新日期：2025-06-09
型號：X-eye 6200AXI Series
廠商性質：代理商
賽可（SEC）X-RAY設備X-eye 6100 Series：為了用戶的便利性定期更新各種Easy-to-use功能。
更新日期：2025-06-09
型號：X-eye 6100AXI Series
廠商性質：代理商
賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160RT Series：半導體，電子產品，封裝等產品精密分析用非破壞性檢測設備Detector X-tlt與Y-tilt Axis增加2.5D view的自由度。
更新日期：2025-06-09
型號：X-eye SF160RT Series
廠商性質：代理商
賽可（SEC）X-RAY檢測X-eye5000N Series:通過采用雙臂支撐的Z軸結構方式，可快速地獲取清晰圖像。
更新日期：2025-06-09
型號：
廠商性質：代理商
賽可（SEC）X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series廣泛應用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導體封裝及Waffer level packaging（WLP)領域里。
更新日期：2025-06-09
型號：
廠商性質：代理商
賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160F/N Series:用戶可通過需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實現3次元（3D）影像中進行正確的分析出不良的種類，位置及大小。
更新日期：2025-06-09
型號：X-eye SF160F/N Series
廠商性質：代理商
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